圣賓(bin)儀器(qi)科技（上海）有限公(gong)司是一(yi)家專注于(yu)分(fen)析(xi)檢測行業的(de)系統(tong)性供應商(shang)，一(yi)直致(zhi)力(li)于(yu)分(fen)析(xi)測試技術方面(mian)進口儀器(qi)的(de)配件耗(hao)(hao)(hao)材(cai)供應，主(zhu)要優勢經銷代理品牌：美(mei)國(guo)賽(sai)默(mo)飛世爾(er)（ThermoFisher）原裝(zhuang)配件耗(hao)(hao)(hao)材(cai)（比如(ru)：ICP光(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu),ICP-MS質(zhi)譜(pu)(pu)(pu)(pu),AAS原子吸收(shou)光(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu), GC-MS氣(qi)質(zhi),LC-MS液質(zhi),ARL直讀光(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)ARL3460,ARL4460,ARLiSpark8820/8860/8880）,9800/9900X熒光(guang)光(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)，同位素質(zhi)譜(pu)(pu)(pu)(pu)，紅外(wai)光(guang)譜(pu)(pu)(pu)(pu)等儀器(qi)備件），珀金埃(ai)爾(er)默(mo)（PerkinElmer）耗(hao)(hao)(hao)材(cai)，美(mei)國(guo)安捷倫（Agilent）耗(hao)(hao)(hao)材(cai)，美(mei)國(guo)沃(wo)特(te)世（Waters）耗(hao)(hao)(hao)材(cai)，戴安（DIONEX）色譜(pu)(pu)(pu)(pu)耗(hao)(hao)(hao)材(cai)，島津(jin)（SHIMADZU）耗(hao)(hao)(hao)材(cai)，瑞士萬通(tong)（Metrohm），CEM耗(hao)(hao)(hao)材(cai)等。
4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極
賽默飛FEL 部分配件耗材
16830 離(li)子(zi)源
4035 273 12631 拔出極
4035 273 6 7441 光(guang)闌
4035 272 35991 抑制極
4035 272 35971 拔出極(ji)
1058129 拔出(chu)極
1301684 Suppressor 抑(yi)制極(ji)
1096659 Aperture 光闌(lan)
1346158 PT
環(huan)境掃描電(dian)鏡
Thermo Scientific Prisma E 掃(sao)描電(dian)鏡 (SEM) 結合了廣泛的成(cheng)(cheng)像和(he)分(fen)析(xi)模式以及(ji)先進自動化功能，和(he)同(tong)類儀器相比，可提供最完(wan)整的解決方案。對于工業(ye)研發(fa)、質量(liang)控制(zhi)和(he)失效(xiao)分(fen)析(xi)應用領域(yu)，需要一臺具(ju)有高分(fen)辨成(cheng)(cheng)像，廣泛的樣品兼容(rong)性，簡單易(yi)用的用戶(hu)界面的掃(sao)描電(dian)鏡，Prisma E是這類應用的理想選擇。Prisma E是在前代(dai)Quanta SEM基礎(chu)上的又一次成(cheng)(cheng)功實(shi)踐(jian)。
全面的性能(neng)，強大的附近(jin)擴展能(neng)力，以及(ji)結(jie)合Thermo Scientific ChemiSEM 技術所實現最直(zhi)觀的元素分析能(neng)力，使(shi)Prisma E在任何行業(ye)或領域都能(neng)夠(gou)實現微米(mi)/亞微米(mi)級成像(xiang)和(he)分析。
4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極
主要(yao)特點
通過選配 ChemiSEM 技術和集成能(neng)量(liang)色散 X 射線光譜(pu) (EDS) 進行實(shi)時成分(fen)(fen)面分(fen)(fen)布(bu)以實(shi)現直(zhi)觀元(yuan)素分(fen)(fen)析(xi)。這種始(shi)終在(zai)線的分(fen)(fen)析(xi)能(neng)力可極(ji)大提高您(nin)的工作效(xiao)率，并獲取最完(wan)整(zheng)的樣品(pin)信息。
靈活的(de)真(zhen)空模式(shi)以及通(tong)過透(tou)鏡抽真(zhen)空技術，使Prisma E可在低(di)(di)電(dian)壓(ya)和(he)低(di)(di)真空(kong)下獲得出色的圖像質量。且(qie)在每個操作模式下，都(dou)可實現二(er)級(ji)電(dian)子 (SE) 和(he)背(bei)散(san)射電(dian)子 (BSE) 同(tong)時成像。
低真(zhen)空和 ESEM 功能(neng)可對非導(dao)電(dian)(dian)和/或(huo)含水樣(yang)品進行無電(dian)(dian)荷/或(huo)無脫水成像和分(fen)析。
憑借 Prisma E 的(de)環境(jing) (ESEM) 模式、可在樣品(pin)加熱、放氣或潮濕的(de)狀態(tai)下直接成像。
倉室(shi)支持最(zui)多安裝3 個(ge) EDS 探測器，其中兩個(ge)EDS接(jie)口呈180° 對稱，并(bing)可安裝波長(chang)色散(san)光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD，并(bing)可在低真空(kong)模式(shi)下實(shi)現高質量無(wu)電荷 EDS 和(he) EBSD 分析(xi)。
易于使用
操(cao)作(zuo)軟件具有用(yong)戶指南和(he)撤消(xiao)功能，可以使新手(shou)用(yong)戶進行(xing)高效(xiao)的操(cao)作(zuo)，也可極大減少專家級用(yong)戶的操(cao)作(zuo)負荷。
規格
參數 | · 分(fen)辨率在高真空、低(di)真空和 ESEM 的(de) 30 kV 下為 3.0 nm · 在 3 kV（BSED、樣(yang)品臺減(jian)速）下為 7.0 nm |
標(biao)準檢測器 | · ETD、低真空 SED (LVD)、 ESEM SED (GSED)、紅外CCD |
可選檢(jian)測器 | · Thermo Scientific Nav-Cam+ 攝(she)像機、DBS、DBS-GAD、ESEM-GAD、STEM 3+、WetSTEM、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC 等(deng) |
ChemiSEM 技術（可選） | · 可(ke)基于能量色散 X 射線光譜(pu) (EDS) 進(jin)行實時定量(liang)(liang) 元(yuan)素面(mian)分(fen)(fen)布。包含(han)點分(fen)(fen)析(xi)、線掃描、面(mian)分(fen)(fen)布及元(yuan)素定量(liang)(liang)。 |
樣品臺減速（可選） | · -4,000 V 至 +50 V |
低真(zhen)空模式 | · 高(gao)達 2,600 Pa (H2O) 或 4,000 Pa (N2) |
樣(yang)品臺 | · 5軸馬達優中心(xin)樣品臺，110 x 110 mm2，105° 傾(qing)斜范圍(wei)。最大樣品重量(liang)：未傾(qing)斜位置，5 kg。 |
標準(zhun)樣(yang)品支架 | · 標準多樣品 SEM 支(zhi)架可單獨安(an)裝 · 在載物臺上，可容納多達(da) 18 個標準樣品托(tuo) (? 12 mm)， · 無(wu)需工具(ju)即可安裝樣品 |
樣品倉 | · 340 mm 內寬，12 個(ge)接口，最多可接三(san)個(ge) EDS 檢(jian)測器（兩個(ge)呈 180°對稱），并具(ju)有(you)與共面 EDS共面的(de)EBSD接口。 |
原位(wei)配件（可(ke)選） | · 軟(ruan)件控制的(de) -20°C 至 +60°C Peltier 冷(leng)臺 · 軟件控制(zhi)的(de) 1,000°C 低真空(kong)/ESEM 熱(re)臺 · 軟件控制的 1,100°C 高(gao)真空熱臺 · 軟件控制的 1,400°C 低真空/ESEM 熱臺 · 集成氣體注入系(xi)統：用于下列材料的電(dian)子(zi)束誘導沉(chen)積，最多支持(chi)2種氣體（其他配(pei)件可(ke)能限制(zhi)可(ke)用的注(zhu)氣系統 (GIS) 數(shu)量）： o 鉑 o 鎢(wu) o 碳(tan) · 納米機械手 · 液氮致冷臺 · 電子探針/多探針臺 |
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