16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價
賽默飛FEL 部分配件耗材
16830 離子源
4035 273 12631 拔出極
4035 273 6 7441 光(guang)闌
4035 272 35991 抑制極
4035 272 35971 拔出(chu)極
1058129 拔出(chu)極
1301684 Suppressor 抑制極
1096659 Aperture 光闌
1346158 PT
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高分(fen)(fen)辨(bian)率的(de)(de)(de)分(fen)(fen)析 聚焦離(li)子(zi)束掃描電子(zi)顯微鏡 (FIB-SEM) 系統,可為包括(kuo)磁(ci)性和非導電材料(liao)在內的(de)(de)(de)各種樣(yang)品提供出色的(de)(de)(de)樣(yang)品制備與(yu) 3D 表征性能(neng) 。Scios 2 DualBeam 通過創新的(de)(de)(de)功(gong)能(neng)設(she)計(ji)提高了通量(liang)、精度(du)以(yi)及易(yi)用性,是滿足科(ke)學(xue)家和工程(cheng)師(shi)在學(xue)術、政府以(yi)及工業研(yan)究(jiu)領域高級研(yan)究(jiu)和分(fen)(fen)析需求的(de)(de)(de)理(li)想解決方(fang)案(an)。
通(tong)常需(xu)要進行亞表面或三維表征以更(geng)好地(di)理解樣品的結(jie)構和性質。Scios 2 DualBeam 及(ji)可(ke)(ke)選配的(de) Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟件可(ke)(ke)提(ti)(ti)供高(gao)質量、全自動的(de)多(duo)模(mo)式 3D 數據集采集,包括用(yong)于最大材料(liao)對(dui)比度(du)的(de)背散射電子(zi) (BSE) 成像、用(yong)于組成信息的(de)能量色散光譜 (EDS) 以及(ji)用(yong)于微觀結構和晶體學信息的(de)電子(zi)背散射衍射 (EBSD)。與 Thermo Scientific Avizo 軟件組合使用(yong)后,Scios 2 DualBeam 可(ke)(ke)為(wei)納米級的(de)高(gao)分辨率(lv)、高(gao)級 3D 表征(zheng)以及(ji)分析提(ti)(ti)供的工作流程解決方案。
創新(xin)的(de) NICol 電(dian)子(zi)色譜(pu)(pu)柱(zhu)為系(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)高分辨率成(cheng)(cheng)像(xiang)和檢測能(neng)力提供了基礎。它適用(yong)于多種工作條(tiao)件(jian),無論是在(zai) 30 keV 的(de)(de) STEM 模(mo)式下(訪(fang)問結構(gou)信(xin)(xin)息)還(huan)是以(yi)較低能(neng)量(liang)(獲(huo)得無電(dian)荷的(de)(de)詳(xiang)細表面信(xin)(xin)息)運(yun)行,都(dou)可以(yi)提供出(chu)色的(de)(de)納米級(ji)細節。Scios 2 DualBeam 具有的(de)(de)鏡筒(tong)內 Thermo Scientific Trinity 檢測系(xi)統(tong)(tong),專用(yong)于同時(shi)采集(ji)角和能(neng)量(liang)選擇(ze)二級(ji)電(dian)子(zi) (SE) 以(yi)及 BSE 成(cheng)(cheng)像(xiang)數據。不僅可以(yi)快速(su)訪(fang)問從上到下的(de)(de)詳(xiang)細納米級(ji)信(xin)(xin)息,還(huan)可快速(su)訪(fang)問傾斜的(de)(de)樣品或交叉切片的(de)(de)信(xin)(xin)息。可選配(pei)的(de)(de)透鏡下檢測器(qi)和電(dian)子(zi)束減(jian)速(su)模(mo)式可以(yi)快速(su)、便捷(jie)地同時(shi)采集(ji)所(suo)有信(xin)(xin)號,揭示材料表面或交叉切片中最小的(de)(de)特(te)征。具有全自(zi)動對齊功能(neng)的(de)(de) NICol 色譜(pu)(pu)柱(zhu),可獲(huo)得快速(su)、準確、可重現的(de)(de)結果(guo)。
科學家和工(gong)程師不斷面臨新的挑戰、需要對(dui)越(yue)來(lai)越(yue)復(fu)雜(za)的樣品的更小特征(zheng)進行高度局部表征(zheng)。Scios 2 DualBeam 的(de)創(chuang)新(xin)與可(ke)(ke)選、易用(yong)和全面的(de) Thermo Scientific AutoTEM 4 軟(ruan)件以及賽默飛世(shi)爾科(ke)技的(de)應用(yong)專業知(zhi)識相(xiang)結合后,可(ke)(ke)支持客(ke)戶快速方便(bian)地制備用(yong)于多種材料的(de) 自定義高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨率 S/TEM 樣(yang)品(pin)。為了(le)獲得(de)高(gao)(gao)質量(liang)結果(guo),需要使用(yong)低能(neng)量(liang)離子(zi)(zi)進行最(zui)終拋(pao)光(guang),以盡(jin)可(ke)(ke)能(neng)減少對(dui)樣(yang)品(pin)表面的(de)損壞。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子(zi)(zi)束 (FIB) 鏡筒不僅能(neng)夠在高(gao)(gao)電(dian)壓下具有(you)高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨率成像和銑削能(neng)力,還具有(you)良好(hao)的(de)低電(dian)壓性能(neng),能(neng)夠創(chuang)建(jian)高(gao)(gao)質量(liang)的(de) TEM 薄片。
16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價
主要(yao)特(te)點
快速、便捷的制備
使用 Sidewinder HT 離子柱獲(huo)得高質量、現場(chang)特(te)定的(de) TEM 和原子探針樣品。
使用在(zai)廣(guang)泛的樣品范圍(包括磁性和非導電材料)內具有性能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜(pu)柱(zhu)。
通過各種集成式色譜柱內(nei)和(he)透(tou)鏡(jing)下檢測(ce)器獲得清晰、精確(que)和(he)無電(dian)荷的對比(bi)度。
使用可選配的 AS&V4 軟(ruan)件,通(tong)過精確靶向感興趣區(qu)域來(lai)獲得高質量、多模式亞表面和(he) 3D 信息(xi)。
高度靈活(huo)的(de) 110 mm 載(zai)物(wu)臺和腔室內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝(she)像機允(yun)許(xu)根(gen)據(ju)具體應用需求進行定制。
具有專用(yong)模式,如(ru) DCFI、漂移抑制和(he) Thermo Scientific SmartScan 模式。
靈活的(de) DualBeam 配置,包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力(li)低真空模(mo)式,可滿(man)足具體的應用要求(qiu)。
規格
電子束分辨率 | · 最(zui)佳(jia) WD o 在 30 keV STEM 下為 0.7 nm o 在 1 keV 下為 1.4 nm o 在 1 keV(射束(shu)減(jian)速)下為 1.2 nm |
電子束參數空間(jian) | · 電子束(shu)電流范圍(wei):1 pA 至 400 nA · 著陸(lu)能量范(fan)圍:20* eV – 30 keV · 加速電壓范圍:200 V – 30 kV · 最大水(shui)平射(she)野寬度:7 mm WD 時為(wei) 3.0 mm,60 mm WD 時為(wei) 7.0 mm · 可通過(guo)標準導航剪(jian)輯提供超(chao)寬(kuan)視(shi)野 (1×) |
離子光學系統 | · 加(jia)速電壓(ya):500 V – 30 kV · 電(dian)子束電(dian)流范(fan)圍(wei):1.5 pA – 65 nA · 15 位(wei)置光(guang)闌條 · 漂(piao)移抑制模式,為非(fei)導電樣品的標準模式 · 最小離(li)子源壽(shou)命(ming):1,000 小時 · 離子束分(fen)辨率:選擇角方法下 30kV 時(shi)為 3.0 nm |
檢測器 | · Trinity 檢測系統(鏡筒(tong)內和(he)色譜(pu)柱(zhu)內) o T1 分段式(shi)下(xia)鏡筒內檢測器(qi) o T2 上鏡筒內(nei)檢測器 o T3 可伸縮色(se)譜柱內(nei)檢測(ce)器(可選(xuan)配) o 多達 4 個同時檢測的信號 · Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD) · 用于二級離子 (SI) 和二級電子(zi) (SE) 的高性(xing)能(neng)離子(zi)轉換和電子(zi)檢測(ce)器 (ICE)(可(ke)選配) · 可伸縮、低(di)電壓、高對比度、分段式(shi)、固態反向(xiang)散(san)射電子(zi)檢測器 (DBS)(可選配(pei)) · 帶 BF/DF/HAADF 分(fen)段的可伸縮 STEM 3+ 檢測器(可選配(pei)) · 查看樣品和腔室的 IR 攝像機 · 腔(qiang)室內(nei) Nav-Cam 樣品導航攝(she)像機(ji)(可選配) · 集成的光束電(dian)流測量 |
載(zai)物(wu)臺和樣品 | 靈活的 5 軸電動平臺: · XY 范(fan)圍(wei):110 mm · Z 范(fan)圍:65 mm · 旋轉(zhuan):360°(無限) · 傾斜范圍(wei):-15° 至(zhi) +90° · XY 重復性:3 μm · 最大樣品(pin)高度(du):與共心點間距 85 mm · 0° 傾斜時(shi)的最大樣品重量:5 kg (包括樣品架) · 最大樣品尺寸(cun):*旋轉時 110 mm(也可以是更大的樣(yang)品,但旋(xuan)轉有(you)限) · 計算(suan)中心旋轉和(he)傾斜(xie) |
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